相控陣天線測試場的選擇——天銳星通的七年實踐
發布時間：2022-08-30 來源：天銳星通科技 瀏覽：
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相控陣天線測試場的選擇
——天銳星通的七年實踐
● 待測天線復雜：由輻射(she)(she)陣面與半導體(ti)(ti)射(she)(she)頻電路、電源(yuan)系統、數字(zi)信號控制系統等高(gao)度集成一(yi)體(ti)(ti)；
● 測試任務量大：需要將頻點(dian)、剖面、掃(sao)描角度、加(jia)權(quan)狀態(tai)等測(ce)試因素排列組合(he)，每臺天線往往有多達數千(qian)張方向圖的測(ce)試量；
● 測試項目多：除(chu)了輻(fu)射方(fang)向圖需要測(ce)試(shi)，有源部分(fen)（半導體(ti)集(ji)成電路）的(de)性能、數字控制與供電部分(fen)的(de)性能也需要一并測(ce)試(shi)，如EIRP值、G/T值、有源增益(yi)、甚至(zhi)是(shi)ACPR、EVM等指標；
● 測試控制復雜：需要(yao)將天線的波(bo)束狀態與產品供電、測量儀器、轉臺位置(zhi)密切配合(he)、同步進行，控制系統(tong)復雜；
● 測試數據龐大：每臺天線測量得到的(de)都是(shi)海量數據(ju)，對數據(ju)的(de)處理分析，對產品(pin)參(can)數指(zhi)標的(de)評估，是(shi)一(yi)件費時耗力的(de)大工程。
研制歷程
丨近場：多個關鍵性能指標測量難度大
● 收(shou)發隔離、指向精度、EIRP、G/T等(deng)“宏觀”性能(neng)難以測量；
● 功率穩定性、波束切換時間等時效性指標難以(yi)測量；
● EVM、調制(zhi)解(jie)調等不能實現測(ce)量。
關鍵在于覆蓋住相控陣無線全指標值測評要，“更抽象概念地去校正”，201七年初公司又開端建筑遠場測評軟件。丨遠場：無法滿足電大尺寸天線測量需求
丨緊縮場：提供面向未來的全能測試環境
關鍵技術特點
丨高精度測試技術
● 高性能反射面設計：采用(yong)卷(juan)邊(bian)設計，抑(yi)制低頻(pin)波(bo)繞射；采用(yong)高精度加工，型面精度優于(yu)20um（實測(ce)為10.8um），可匹配110GHz以(yi)上(shang)頻(pin)率(lv)測(ce)量；反射面總體(ti)使用(yong)效(xiao)率(lv)達到(dao)50%~60%，靜區幅度錐削≤1 dB，幅度紋波(bo)≤±0.5 dB，相位(wei)波(bo)動≤±5°（實測(ce)均優于(yu)此標準(zhun)）。
● 系統自檢功能：通過系統鏈路自(zi)校(xiao)準(zhun)設計，保障了測試(shi)場(chang)地的準(zhun)確可靠，為(wei)EIRP和G/T等(deng)絕(jue)對測試(shi)提(ti)供基礎。
● 校準補償：通(tong)過(guo)安裝誤差補(bu)償(chang)技術，保(bao)障相(xiang)(xiang)控陣天(tian)線幅相(xiang)(xiang)校準、指向精度(du)等高精度(du)測試。
● 大數據處理：通過大數(shu)據分析，縮減測(ce)(ce)試的波動(dong)性，提高制造(zao)測(ce)(ce)量一致(zhi)性水平。
丨基于硬件觸發的快速測試技術
丨自動化技術
相控陣天線測試場建設建議
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● 建設近場測試系統，用于陣面診斷和三維方向圖測量（研發階段）；
● 建設遠場測試系統，用于系統級測試，比如多目標測試，目標移動測試等（研發階段）；
● 建設緊縮場測試系統，用于相控陣天線全指標測量，滿足研發驗證為主的測試需求（研發階段）；
● 建設半自動化緊縮場測試系統，用于相控陣天線基本指標的快速測量，滿足小批量試制為主的測試需求（試制階段）；
● 建設全自動化緊縮場測試系統，用于相控陣天線批量生產測量，滿足大批量生產為主的測試需求（量產階段）。
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